علت‌های رایج تداخل
جریان‌های پالسی در حلقه‌های کوچک اما پرسرعت و لبه ولتاژ گره سوئیچ منبع اصلی EMI هستند. امپدانس خازن ورودی، مسیر برگشت، سطح گره سوئیچ، دیود یا MOSFET و کابل‌های متصل شکل نویز هدایتی و تشعشعی را تعیین می‌کنند.
- مساحت بزرگ حلقه جریان با di/dt بالا
- مسیر برگشت زمین طولانی یا مشترک با سیگنال
- گره سوئیچ بزرگ و لبه‌های بسیار سریع
- خازن بای‌پس دور یا با ESL زیاد
- کابل بدون فیلتر، شیلد یا Common-mode choke مناسب
نویز از کدام مسیر می‌رسد؟
فرکانس تداخل با فرکانس سوئیچینگ و هارمونیک‌ها مقایسه و مسیر هدایتی و تشعشعی جدا آزمون می‌شود.
- طیف نویز را در ورودی، خروجی و نزدیک برد ثبت کنید
- با پراب میدان نزدیک حلقه و قطعه منبع را پیدا کنید
- مسیر برگشت و محل خازن‌های بای‌پس را بررسی کنید
- تغییر بار و فرکانس را با دامنه نویز مقایسه کنید
- فیلتر یا Snubber ابتدا در آزمون کنترل‌شده ارزیابی شود
اندازهگیری روی مدار قدرت، بانک باتری یا تجهیزات متصل به شبکه فقط با ابزار دارای رده مناسب، روش جداسازی صحیح و توسط فرد صلاحیت‌دار انجام شود.
نتیجه‌ها را چگونه تفسیر کنیم؟
پیک‌هایی که با فرکانس سوئیچینگ جابه‌جا می‌شوند به منبع مبدل اشاره دارند. کاهش با کوتاه‌کردن کابل یا نزدیک‌کردن بای‌پس مسیر هدایتی را تقویت میکند. تغییر زیاد با جهت پراب، کوپل تشعشعی را مطرح میکند.
اشتباه‌های رایج در عیب‌یابی
- افزودن خازن بدون بررسی پایداری
- بستن شیلد در دو نقطه نامناسب
- اندازهگیری با حلقه پراب بزرگ
- کوچک‌کردن مقاومت گیت بدون بررسی Ringing
چه زمانی آزمون را متوقف کنیم؟
تغییر Snubber، گیت یا فیلتر میتواند تنش و پایداری را عوض کند. آزمایش فقط با ابزار، بار و محدوده ایمن انجام شود و قطعه حفاظتی حذف نشود.
در عیب‌یابی تخصصی چه چیزهایی بررسی می‌شوند؟
طیف و مسیر کوپل، Layout، گره سوئیچ، درایو، Ringing، خازن‌های بای‌پس، کابل و فیلتر بررسی و اصلاح با اندازهگیری قبل و بعد تأیید می‌شود.
